產(chǎn)品描述
多線程運行。
芯片ADC動態(tài)與靜態(tài)測試通過PSIEVM高精度信號卡產(chǎn)生2KHz，8階濾波的正弦波提供給ADC端口，并通過邏輯分析儀進行MCU端口轉換進行ADC參數(shù)測試。
DAC測試通過20位的高精度DAC卡提供電壓給端口進行測試。
此系統(tǒng)同時也可進行CMP,GPIO,HSI,HSE,LSE,LSI,PLL,VABT,VREF等項目的自動化測試。
設備和所需板卡都是通過端口程控進行與上位機通訊。
此系統(tǒng)支持單步調(diào)試，設備及系統(tǒng)參數(shù)配置，且測試項目也可進行靈活配置。
支持冷熱沖擊測試。
優(yōu)點
基于高效的軟件開發(fā)平臺LabVIEW開發(fā)，且完全屬于自主開發(fā)，能夠靈活的對程序進行完善修改。
系統(tǒng)內(nèi)部集成多類控制型，測量型，信號產(chǎn)生型設備，能極大的提高芯片測試的覆蓋率。
系統(tǒng)采用高精度設備，能極大提高測量精度。
系統(tǒng)采用自動化測試，能極大提高測試時間。
系統(tǒng)內(nèi)部依據(jù)適合自身產(chǎn)品及競品的標準，包含了測試項目運行模塊，測試程序開發(fā)模塊，測試設備集成管理，測試數(shù)據(jù)采集模塊，測試流程管理模塊，測試數(shù)據(jù)管理模塊，測試用戶管理模塊等，并在后期系統(tǒng)升級中加入積木模塊化編程，更易于測試人員操作
適用范圍
MCU芯片的DVT,EVT全自動測試領域。